0 Stavka
Moj nalog
Telefon: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Prodaja standarda: prodaja@iss.rs Seminari, obuke: iss-edukacija@iss.rs Informacije o standardima: infocentar@iss.rs
Stevana Brakusa 2, 11030 Beograd
Glavni meni

IEC 60749-5:2003 ED1

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test
17. 1. 2003.

Опште информације

99.60     10. 4. 2017.

WPUB   

IEC

TC 47

Međunarodni standard

31.080.01  

engleski   francuski   španski  

Kupovina

Revidiran

Jezik na kome želite da primite dokument.

Apstrakt

Provides a steady-state temperature and humidity bias life test for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetic packaged solid-state devices in humid environments.

Životni ciklus

PRETHODNO

POVUČEN
IEC 60749:1996 ED2

POVUČEN
IEC 60749:1996/AMD1:2000 ED2

POVUČEN
IEC 60749:1996/AMD2:2001 ED2

POVUČEN
IEC PAS 62161:2000 ED1

TRENUTNO

POVUČEN
IEC 60749-5:2003 ED1
99.60 Povlačenje stupilo na snagu
10. 4. 2017.

REVIDIRAN OD

POVUČEN
IEC 60749-5:2017 ED2