0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

IEC 60749-10:2002 ED1

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock
9. 4. 2002.

Опште информације

99.60     27. 4. 2022.

IEC

TC 47

Међународни стандард

31.080.01  

енглески   француски   шпански  

Куповина

Ревидиран

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

Describes a shock test intended to determine the suitability of component parts for use in electronic equipment which may be subjected to moderately severe shocks as a result of suddenly applied forces or abrupt changes in motion produced by rough handling, transportation, or field operation. Shock of this type may disturb operating characteristics, particularly if the shock pulses are repetitive. This is a destructive test. It is normally applicable to cavity-type packages.

The contents of the corrigendum of August 2003 have been included in this copy.

Животни циклус

ПРЕТХОДНО

ПОВУЧЕН
IEC 60749:1996 ED2

ПОВУЧЕН
IEC 60749:1996/AMD1:2000 ED2

ПОВУЧЕН
IEC 60749:1996/AMD2:2001 ED2

ПОВУЧЕН
IEC PAS 62186:2000 ED1

ТРЕНУТНО

ПОВУЧЕН
IEC 60749-10:2002 ED1
99.60 Повлачење ступило на снагу
27. 4. 2022.

ИСПРАВКЕ / ИЗМЕНЕ

ПОВУЧЕН
IEC 60749-10:2002/COR1:2003 ED1

РЕВИДИРАН ОД

ОБЈАВЉЕН
IEC 60749-10:2022 ED2