0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

IEC 60749-23:2004 ED1

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
30. 3. 2011.

Опште информације

99.60     9. 12. 2025.

IEC

TC 47

Међународни стандард

31.080.01  

енглески   француски  

Куповина

Ревидиран

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

This test is used to determine the effects of bias conditions and temperature on solid state devices over time. It simulates the device operating condition in an accelerated way, and is primarily used for device qualification and reliability monitoring.

Животни циклус

ПРЕТХОДНО

ПОВУЧЕН
IEC PAS 62189:2000 ED1

ТРЕНУТНО

ПОВУЧЕН
IEC 60749-23:2004 ED1
99.60 Повлачење ступило на снагу
9. 12. 2025.

ИСПРАВКЕ / ИЗМЕНЕ

ПОВУЧЕН
IEC 60749-23:2004/AMD1:2011 ED1

РЕВИДИРАН ОД

ОБЈАВЉЕН
IEC 60749-23:2025 ED2