0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

IEC 60749-6:2002 ED1

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature
12. 4. 2002.

Опште информације

99.60     3. 3. 2017.

WPUB   

IEC

TC 47

Међународни стандард

31.080.01  

енглески   француски   шпански  

Куповина

Ревидиран

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

Aims at testing and determining the effect on all semiconductor electronic devices of storage at elevated temperature without electrical stress applied. This test is considered non-destructive.

The contents of the corrigendum of August 2003 have been included in this copy.

Животни циклус

ПРЕТХОДНО

ПОВУЧЕН
IEC 60749:1996 ED2

ПОВУЧЕН
IEC 60749:1996/AMD1:2000 ED2

ПОВУЧЕН
IEC 60749:1996/AMD2:2001 ED2

ПОВУЧЕН
IEC PAS 62205:2000 ED1

ТРЕНУТНО

ПОВУЧЕН
IEC 60749-6:2002 ED1
99.60 Повлачење ступило на снагу
3. 3. 2017.

ИСПРАВКЕ / ИЗМЕНЕ

ПОВУЧЕН
IEC 60749-6:2002/COR1:2003 ED1

РЕВИДИРАН ОД

ОБЈАВЉЕН
IEC 60749-6:2017 ED2