IEC 63581-1 ED1
Semiconductor devices - The recognition criteria of defects in indium phosphide epitaxial wafers - Part 1: Classification of defects
Опште информације
40.20
7. 11. 2025.
PRVC
30. 1. 2026.
IEC
TC 47
Међународни стандард
31.080.99
Куповина
Уколико желите да набавите овај документ обратите се на следећу адресу: prodaja@iss.rs
Апстракт
Животни циклус
ТРЕНУТНО
ПРОЈЕКАТ
IEC 63581-1 ED1
40.20
Нацрт на јавној расправи 60 дана
7. 11. 2025.
Преглед
Да бисте видели цео садржај, морате се регистровати или пријавити помоћу корисничког имена које већ имате.
Пријавите се