IEC 63581-1 ED1
Semiconductor devices - The recognition criteria of defects in indium phosphide epitaxial wafers - Part 1: Classification of defects
Опште информације
40.20
7. 11. 2025.
PRVC
30. 1. 2026.
IEC
TC 47
Međunarodni standard
31.080.99
Kupovina
Ukoliko želite da nabavite ovaj dokument obratite se na sledeću adresu: prodaja@iss.rs
Apstrakt
Životni ciklus
TRENUTNO
PROJEKAT
IEC 63581-1 ED1
40.20
Nacrt na javnoj raspravi 60 dana
7. 11. 2025.
Pregled
Da biste videli ceo sadržaj, morate se registrovati ili prijaviti pomoću korisničkog imena koje već imate.
Prijavite se