0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

IEC 63287-4:2026 ED1

Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans - Part 4: Early failure assessment
28. 8. 2026.

Опште информације

60.60     28. 8. 2026.

IEC

TC 47

Међународни стандард

31.080.01  

енглески   француски  

Куповина

Објављен

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

IEC 63287-4:2026 gives guidelines for the development of reliability qualification plans using the early failure assessment, based on the environmental conditioning and proposed usage of the product. This document is not intended for military- and space-related applications.

Животни циклус

ТРЕНУТНО

ОБЈАВЉЕН
IEC 63287-4:2026 ED1
60.60 Стандард објављен
28. 8. 2026.

Национална преузимања

dnaSRPS EN IEC 63287-4:2026  
ISS

Полупроводнички уређаји – Смернице за планове квалификације поузданости – Део 4: Оцена раних отказа

50.60   Завршетак поступка одобравања дефинитивног текста нацрта стандарда

N022 Сазнај више