0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

IEC 63287-4 ED1

Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans - Part 4: Early failure assessment

Опште информације

50.20     19. 6. 2026.

PRVD    31. 7. 2026.

IEC

TC 47

Међународни стандард

31.080.01  

Апстракт

IEC 63287-4 ED1 gives guidelines for the development of reliability qualification plans using the early failure assessment, based on the environmental conditioning and proposed usage of the product. This document is not intended for military- and space-related applications.

Животни циклус

ТРЕНУТНО

ПРОЈЕКАТ
IEC 63287-4 ED1
50.20 Почетак поступка одобравања дефинитивног текста нацрта стандарда
19. 6. 2026.

Национална преузимања

dnaSRPS EN IEC 63287-4:2026  
ISS

Полупроводнички уређаји – Смернице за планове квалификације поузданости – Део 4: Оцена раних отказа

50.20   Почетак поступка одобравања дефинитивног текста нацрта стандарда

N022 Сазнај више

Преглед

Да бисте видели цео садржај, морате се регистровати или пријавити помоћу корисничког имена које већ имате.

Пријавите се