0 Stavka
Moj nalog
Telefon: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Prodaja standarda: prodaja@iss.rs Seminari, obuke: iss-edukacija@iss.rs Informacije o standardima: infocentar@iss.rs
Stevana Brakusa 2, 11030 Beograd
Glavni meni

IEC 63287-4:2026 ED1

Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans - Part 4: Early failure assessment
28. 8. 2026.

Опште информације

60.60     28. 8. 2026.

IEC

TC 47

Međunarodni standard

31.080.01  

engleski   francuski  

Kupovina

Objavljen

Jezik na kome želite da primite dokument.

Apstrakt

IEC 63287-4:2026 gives guidelines for the development of reliability qualification plans using the early failure assessment, based on the environmental conditioning and proposed usage of the product. This document is not intended for military- and space-related applications.

Životni ciklus

TRENUTNO

OBJAVLJEN
IEC 63287-4:2026 ED1
60.60 Standard objavljen
28. 8. 2026.

Nacionalna preuzimanja

dnaSRPS EN IEC 63287-4:2026  
ISS

Poluprovodnički uređaji – Smernice za planove kvalifikacije pouzdanosti – Deo 4: Ocena ranih otkaza

50.60   Završetak postupka odobravanja definitivnog teksta nacrta standarda

N022 Saznaj više