0 Stavka
Moj nalog
Telefon: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Prodaja standarda: prodaja@iss.rs Seminari, obuke: iss-edukacija@iss.rs Informacije o standardima: infocentar@iss.rs
Stevana Brakusa 2, 11030 Beograd
Glavni meni

IEC 63287-4 ED1

Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans - Part 4: Early failure assessment

Опште информације

50.20     19. 6. 2026.

PRVD    31. 7. 2026.

IEC

TC 47

Međunarodni standard

31.080.01  

Apstrakt

IEC 63287-4 ED1 gives guidelines for the development of reliability qualification plans using the early failure assessment, based on the environmental conditioning and proposed usage of the product. This document is not intended for military- and space-related applications.

Životni ciklus

TRENUTNO

PROJEKAT
IEC 63287-4 ED1
50.20 Početak postupka odobravanja definitivnog teksta nacrta standarda
19. 6. 2026.

Nacionalna preuzimanja

dnaSRPS EN IEC 63287-4:2026  
ISS

Poluprovodnički uređaji – Smernice za planove kvalifikacije pouzdanosti – Deo 4: Ocena ranih otkaza

50.20   Početak postupka odobravanja definitivnog teksta nacrta standarda

N022 Saznaj više

Pregled

Da biste videli ceo sadržaj, morate se registrovati ili prijaviti pomoću korisničkog imena koje već imate.

Prijavite se