0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

dnaSRPS EN IEC 63287-4:2026

Полупроводнички уређаји – Смернице за планове квалификације поузданости – Део 4: Оцена раних отказа

Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans - Part 4: Early failure assessment

Опште информације

50.20     19. 6. 2026.

50.60    31. 7. 2026.

ISS

N022

Европски стандард

31.080.01  

енглески  

Апстракт

Овај део стандарда IEC 63287 даје смернице за развој планова квалификације поузданости коришћењем оцене раних отказа, засноване на експерименталном условљавању околине и предложеној употреби производа.
Овај документ није намењен војним и свемирским апликацијама.

Животни циклус

ТРЕНУТНО

ПРОЈЕКАТ
dnaSRPS EN IEC 63287-4:2026
50.20 Почетак поступка одобравања дефинитивног текста нацрта стандарда
19. 6. 2026.

Повезани пројекти

Идентичан са FprEN IEC 63287-4:2026 IDENTICAL

Идентичан са IEC 63287-4 ED1 IDENTICAL

Преглед

Да бисте видели цео садржај, морате се регистровати или пријавити помоћу корисничког имена које већ имате.

Пријавите се