IEC 63378-6-1 ED1

Thermal standardization on semiconductor packages - Part 6-1: Thermal resistance and capacitance model for transient temperature prediction at junction and measurement points - Model creation method using a datasheet of semiconductor device

Опште информације

Тренутна фаза: 60.00 Effective date: 13. 4. 2026.

Следећа фаза: DECPUB Датум следеће фазе: 1. 6. 2026.

Иницијатор: IEC

Припада: TC 47/SC 47D

Врста: Међународни стандард

ICS: 31.080.01

Апстракт

Животни циклус

ТРЕНУТНО

ПРОЈЕКАТ
IEC 63378-6-1 ED1
60.00 Стандард у поступку објављивања
13. 4. 2026.

Национална преузимања

naSRPS EN IEC 63378-6-1:2025

ISS

Термичка стандардизација на кућиштима полупроводника — Део 6-1: Модел термичке отпорности и капацитета за предвиђање пролазне температуре на споју и тачкама мерења - Метода креирања модела коришћењем техничког листа полупроводничког уређаја

40.60 Завршетак јавне расправе

N022 Сазнај више