0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

IEC 60749-27:2003 ED1

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
21. 10. 2003.

Опште информације

99.60     18. 7. 2006.

IEC

TC 47

Међународни стандард

31.080.01  

енглески   француски  

Куповина

Ревидиран

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

Establishes a standard procedure for testing and classifying semiconductor devices according to their susceptibility to damage or degradation by exposure to a defined machine model electrostatic discharge. The objective is to provide reliable, repeatable test results so that accurate classifications can be performed.
The testing shall be selected from this test method or the human body model (see IEC 60749-26).

Животни циклус

ПРЕТХОДНО

ПОВУЧЕН
IEC PAS 62180:2000 ED1

ТРЕНУТНО

ПОВУЧЕН
IEC 60749-27:2003 ED1
99.60 Повлачење ступило на снагу
18. 7. 2006.

РЕВИДИРАН ОД

ОБЈАВЉЕН
IEC 60749-27:2006 ED2