0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

IEC 60749-27:2006 ED2

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
25. 9. 2012.

Опште информације

60.60     18. 7. 2006.

IEC

TC 47

Међународни стандард

31.080.01  

енглески   француски  

Куповина

Објављен

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

Establishes a standard procedure for testing and classifying semiconductor devices according to their susceptibility to damage or degradation by exposure to a defined machine model (MM) electrostatic discharge (ESD). It may be used as an alternative test method to the human body model ESD test method. The objective is to provide reliable, repeatable ESD test results so that accurate classifications can be performed. This test method is applicable to all semiconductor devices and is classified as destructive

Животни циклус

ПРЕТХОДНО

ПОВУЧЕН
IEC 60749-27:2003 ED1

ТРЕНУТНО

ОБЈАВЉЕН
IEC 60749-27:2006 ED2
60.60 Стандард објављен
18. 7. 2006.

ИСПРАВКЕ / ИЗМЕНЕ

ОБЈАВЉЕН
IEC 60749-27:2006/AMD1:2012 ED2