0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

IEC 60749-41:2020 ED1

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices
22. 7. 2020.

Опште информације

60.60     22. 7. 2020.

IEC

TC 47

Међународни стандард

31.080.01  

енглески   француски  

Куповина

Објављен

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

IEC 60749-41:2020 specifies the procedural requirements for performing valid endurance, retention and cross-temperature tests based on a qualification specification. Endurance and retention qualification specifications (for cycle counts, durations, temperatures, and sample sizes) are specified in JESD47 or are developed using knowledge-based methods such as in JESD94.

Животни циклус

ТРЕНУТНО

ОБЈАВЉЕН
IEC 60749-41:2020 ED1
60.60 Стандард објављен
22. 7. 2020.

Национална преузимања

SRPS EN IEC 60749-41:2020  
ISS

Полупроводничке компоненте - Методе механичких и климатских испитивања - Део 41: Методе испитивања поузданости непроменљивих меморијских компоненти

60.60   Стандард објављен

N022 Сазнај више