SRPS EN IEC 60749-41:2020

Полупроводничке компоненте - Методе механичких и климатских испитивања - Део 41: Методе испитивања поузданости непроменљивих меморијских компоненти

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices

Апстракт

IEC 60749-41:2020 утврђује процедуралне захтеве за извођење валидних испитивања издржљивости, задржавања и унакрсних температура на основу квалификационих спецификација. Спецификације квалификација за издржљивост и задржавање (за бројање циклуса, трајања, температуре и величине узорака) наведене су у JESD47 или су развијене применом метода заснованих на знању као што је JESD94.