0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

IEC 60749-3:2017 ED2

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination
3. 3. 2017.

Опште информације

60.60     3. 3. 2017.

IEC

TC 47

Међународни стандард

31.080.01  

енглески   француски  

Куповина

Објављен

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

IEC 60749-3:2017 is to verify that the materials, design, construction, markings, and workmanship of a semiconductor device are in accordance with the applicable procurement document. External visual inspection is a non-destructive test and applicable for all package types. The test is useful for qualification, process monitor, or lot acceptance.
This edition includes the following significant technical changes with respect to the previous edition:
a) reference to the need for ESD protection;
b) inclusion of information on the phenomenon of tin whiskers;
c) inclusion of an optional report form/checklist.

Животни циклус

ПРЕТХОДНО

ПОВУЧЕН
IEC 60749-3:2002 ED1

ПОВУЧЕН
IEC 60749-3:2002/COR1:2003 ED1

ТРЕНУТНО

ОБЈАВЉЕН
IEC 60749-3:2017 ED2
60.60 Стандард објављен
3. 3. 2017.