0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

IEC 62047-34:2019 ED1

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 34: Test methods for MEMS piezoresistive pressure-sensitive device on wafer
5. 4. 2019.

Опште информације

60.60     5. 4. 2019.

IEC

TC 47/SC 47F

Међународни стандард

31.080.99     31.140  

енглески  

Куповина

Објављен

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

IEC 62047-34:2019 (E) describes test conditions and test methods of electric character, static performances and thermal performances for MEMS pressure-sensitive devices. This document applies to test for both open and closed loop piezoresistive MEMS pressure devices on wafer.

Животни циклус

ТРЕНУТНО

ОБЈАВЉЕН
IEC 62047-34:2019 ED1
60.60 Стандард објављен
5. 4. 2019.