0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

IEC 60749:1984 ED1

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods.
30. 12. 1984.

Опште информације

99.60     28. 10. 1996.

IEC

TC 47

Међународни стандард

31.080.01  

енглески   француски  

Куповина

Ревидиран

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

Lists test methods applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits) from which a selection may be made.
Establishes uniform preferred test methods with preferred values for stress levels for judging the environmental properties of semiconductor devices.

Животни циклус

ПРЕТХОДНО

ПОВУЧЕН
IEC 60147-5:1977 ED1

ПОВУЧЕН
IEC 60147-5A:1981 ED1

ТРЕНУТНО

ПОВУЧЕН
IEC 60749:1984 ED1
99.60 Повлачење ступило на снагу
28. 10. 1996.

ИСПРАВКЕ / ИЗМЕНЕ

ПОВУЧЕН
IEC 60749:1984/AMD1:1991 ED1

ПОВУЧЕН
IEC 60749:1984/AMD2:1993 ED1

РЕВИДИРАН ОД

ПОВУЧЕН
IEC 60749:1996 ED2