0 Stavka
Moj nalog
Telefon: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Prodaja standarda: prodaja@iss.rs Seminari, obuke: iss-edukacija@iss.rs Informacije o standardima: infocentar@iss.rs
Stevana Brakusa 2, 11030 Beograd
Glavni meni

IEC 60749:1984 ED1

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods.
30. 12. 1984.

Опште информације

99.60     28. 10. 1996.

IEC

TC 47

Međunarodni standard

31.080.01  

engleski   francuski  

Kupovina

Revidiran

Jezik na kome želite da primite dokument.

Apstrakt

Lists test methods applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits) from which a selection may be made.
Establishes uniform preferred test methods with preferred values for stress levels for judging the environmental properties of semiconductor devices.

Životni ciklus

PRETHODNO

POVUČEN
IEC 60147-5:1977 ED1

POVUČEN
IEC 60147-5A:1981 ED1

TRENUTNO

POVUČEN
IEC 60749:1984 ED1
99.60 Povlačenje stupilo na snagu
28. 10. 1996.

ISPRAVKE / IZMENE

POVUČEN
IEC 60749:1984/AMD1:1991 ED1

POVUČEN
IEC 60749:1984/AMD2:1993 ED1

REVIDIRAN OD

POVUČEN
IEC 60749:1996 ED2