0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

ISO 14706:2000

Surface chemical analysis — Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy
21. 12. 2000.
95.99   Повучен   25. 7. 2014.

Опште информације

95.99     25. 7. 2014.

ISO

ISO/TC 201

Међународни стандард

71.040.40  

енглески  

Куповина

Повучен

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

Животни циклус

ТРЕНУТНО

ПОВУЧЕН
ISO 14706:2000
95.99 Повучен
25. 7. 2014.

РЕВИДИРАН ОД

ОБЈАВЉЕН
ISO 14706:2014