0 Stavka
Moj nalog
Telefon: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Prodaja standarda: prodaja@iss.rs Seminari, obuke: iss-edukacija@iss.rs Informacije o standardima: infocentar@iss.rs
Stevana Brakusa 2, 11030 Beograd
Glavni meni

ISO 14706:2000

Surface chemical analysis — Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy
21. 12. 2000.
95.99   Povučen   25. 7. 2014.

Опште информације

95.99     25. 7. 2014.

ISO

ISO/TC 201

Međunarodni standard

71.040.40  

engleski  

Kupovina

Povučen

Jezik na kome želite da primite dokument.

Apstrakt

Životni ciklus

TRENUTNO

POVUČEN
ISO 14706:2000
95.99 Povučen
25. 7. 2014.

REVIDIRAN OD

OBJAVLJEN
ISO 14706:2014