0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

ISO/TR 15969:2001

Surface chemical analysis — Depth profiling — Measurement of sputtered depth
31. 5. 2001.
95.99   Повучен   17. 3. 2021.

Опште информације

95.99     17. 3. 2021.

ISO

ISO/TC 201/SC 4

Технички извештај

71.040.40  

енглески  

Куповина

Повучен

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

This Technical Report gives guidelines for measuring the sputtered depth in sputtered depth profiling. The methods
of sputtered depth measurement described in this Technical Report are applicable to techniques of surface
chemical analysis when used in combination with ion bombardment for the removal of a part of a solid sample to a
typical sputtered depth of up to severalmicrometres.

Животни циклус

ТРЕНУТНО

ПОВУЧЕН
ISO/TR 15969:2001
95.99 Повучен
17. 3. 2021.

РЕВИДИРАН ОД

ОБЈАВЉЕН
ISO/TR 15969:2021