0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

ISO 16700:2004

Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Guidelines for calibrating image magnification
5. 3. 2004.
95.99   Повучен   18. 7. 2016.

Опште информације

95.99     18. 7. 2016.

ISO

ISO/TC 202/SC 4

Међународни стандард

37.020  

енглески  

Куповина

Повучен

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

ISO 16700:2004 specifies a method for calibrating the magnification of images generated by a scanning electron microscope (SEM) using an appropriate reference material. This method is limited to magnifications determined by the available size range of structures in the calibrating reference material. This International Standard does not apply to the dedicated critical dimension measurement SEM.

Животни циклус

ТРЕНУТНО

ПОВУЧЕН
ISO 16700:2004
95.99 Повучен
18. 7. 2016.

РЕВИДИРАН ОД

ОБЈАВЉЕН
ISO 16700:2016