0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

ISO 16700:2016

Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Guidelines for calibrating image magnification
18. 7. 2016.

Опште информације

90.93     23. 11. 2023.

ISO

ISO/TC 202/SC 4

Међународни стандард

37.020  

енглески  

Куповина

Објављен

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

ISO 16700:2016 specifies a method for calibrating the magnification of images generated by a scanning electron microscope (SEM) using an appropriate reference material. This method is limited to magnifications determined by the available size range of structures in the calibrating reference material. It does not apply to the dedicated critical dimension measurement SEM.

Животни циклус

ПРЕТХОДНО

ПОВУЧЕН
ISO 16700:2004

ТРЕНУТНО

ОБЈАВЉЕН
ISO 16700:2016
90.93 Одлука о потврђивању стандарда
23. 11. 2023.

РЕВИДИРАН ОД

ПРОЈЕКАТ
ISO/PWI 16700