0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

ISO 17470:2004

Microbeam analysis — Electron probe microanalysis — Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry
13. 9. 2004.
95.99   Повучен   6. 1. 2014.

Опште информације

95.99     6. 1. 2014.

ISO

ISO/TC 202/SC 2

Међународни стандард

71.040.99  

енглески   француски  

Куповина

Повучен

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

ISO 17470:2004 gives guidance for the identification of elements and the investigation of the presence of specific elements, within a specific volume, contained in a specimen, by analysing X-ray spectra obtained using wavelength dispersive X-ray spectrometers on an electron probe microanalyser or on a scanning electron microscope.

Животни циклус

ТРЕНУТНО

ПОВУЧЕН
ISO 17470:2004
95.99 Повучен
6. 1. 2014.

РЕВИДИРАН ОД

ОБЈАВЉЕН
ISO 17470:2014