0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

ISO 14606:2015

Surface chemical analysis — Sputter depth profiling — Optimization using layered systems as reference materials
1. 12. 2015.
95.99   Повучен   21. 11. 2022.

Опште информације

95.99     21. 11. 2022.

ISO

ISO/TC 201/SC 4

Међународни стандард

71.040.40  

енглески  

Куповина

Повучен

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

ISO 14606:2015 gives guidance on the optimization of sputter-depth profiling parameters using appropriate single-layered and multilayered reference materials in order to achieve optimum depth resolution as a function of instrument settings in Auger electron spectroscopy, X-ray photoelectron spectroscopy and secondary ion mass spectrometry.
ISO 14606:2015 is not intended to cover the use of special multilayered systems such as delta doped layers.

Животни циклус

ПРЕТХОДНО

ПОВУЧЕН
ISO 14606:2000

ТРЕНУТНО

ПОВУЧЕН
ISO 14606:2015
95.99 Повучен
21. 11. 2022.

РЕВИДИРАН ОД

ОБЈАВЉЕН
ISO 14606:2022