This document describes methods for measuring the lateral size and thickness of graphene oxide (GO) flakes using scanning electron microscopy (SEM) and atomic force microscopy (AFM) respectively, including sample pre-treatments, measurement procedures and data analysis. It is applicable to the characterization of graphene oxide in powder and liquid dispersion forms.
ПРОЈЕКАТ
ISO/DTS 23879
50.20
Почетак поступка одобравања дефинитивног текста нацрта стандарда
27. 10. 2026.
Нанотехнологије -- Структурна карактеризација пахуљица графен оксида: мерење дебљине и бочне величине коришћењем AFM и SEM
50.20 Почетак поступка одобравања дефинитивног текста нацрта стандарда
Да бисте видели цео садржај, морате се регистровати или пријавити помоћу корисничког имена које већ имате.