0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs Сертификационо тело: sertifikaciono.telo@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

dnaSRPS CEN ISO/TS 23879:2026

Нанотехнологије -- Структурна карактеризација пахуљица графен оксида: мерење дебљине и бочне величине коришћењем AFM и SEM

Nanotechnologies - Structural characterization of graphene oxide flakes - Thickness and lateral size measurement using atomic force microscopy and scanning electron microscopy (ISO/DTS 23879:2026)

Опште информације

50.20     29. 10. 2026.

50.60    22. 12. 2026.

ISS

Z229

Техничка спецификација

07.120  

енглески  

Апстракт

This document describes methods for measuring the lateral size and thickness of graphene oxide (GO) flakes using scanning electron microscopy (SEM) and atomic force microscopy (AFM) respectively, including sample pre-treatments, measurement procedures and data analysis. It is applicable to the characterization of graphene oxide in powder and liquid dispersion forms.

Животни циклус

ТРЕНУТНО

ПРОЈЕКАТ
dnaSRPS CEN ISO/TS 23879:2026
50.20 Почетак поступка одобравања дефинитивног текста нацрта стандарда
29. 10. 2026.

Повезани пројекти

Идентичан са FprCEN ISO/TS 23879 IDENTICAL

Идентичан са ISO/DTS 23879 IDENTICAL

Преглед

Да бисте видели цео садржај, морате се регистровати или пријавити помоћу корисничког имена које већ имате.

Пријавите се