0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

ISO/PWI 16700

Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Guidelines for calibrating image magnification

Опште информације

00.00     23. 11. 2023.

ISO

ISO/TC 202/SC 4

Међународни стандард

Апстракт

This document specifies a method for calibrating the magnification of images generated by a scanning electron microscope (SEM) using an appropriate reference material. This method is limited to magnifications determined by the available size range of structures in the calibrating reference material.
This document does not apply to the dedicated critical dimension measurement SEM.

Животни циклус

ПРЕТХОДНО

ОБЈАВЉЕН
ISO 16700:2016

ТРЕНУТНО

ПРОЈЕКАТ
ISO/PWI 16700
00.00 Поднет предлог новог пројекта
23. 11. 2023.