naSRPS EN IEC 63287-4:2026

Poluprovodnički uređaji – Smernice za planove kvalifikacije pouzdanosti – Deo 4: Ocena ranih otkaza

Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans - Part 4: Early failure assessment

Опште информације

Trenutna faza: 40.60 Effective date: 22. 8. 2025.

Inicijator: ISS

Pripada: N022

Vrsta: Evropski standard

ICS: 31.080.01

Jezik: engleski

Apstrakt

Ovaj deo standarda IEC 63287 daje smernice za razvoj planova kvalifikacije pouzdanosti korišćenjem ocene ranih otkaza, zasnovane na eksperimentalnom uslovljavanju okoline i predloženoj upotrebi proizvoda.
Ovaj dokument nije namenjen vojnim i svemirskim aplikacijama.

Životni ciklus

TRENUTNO

PROJEKAT
naSRPS EN IEC 63287-4:2026
40.60 Završetak javne rasprave
22. 8. 2025.

naSRPS EN IEC 63287-4:2026

Poluprovodnički uređaji – Smernice za planove kvalifikacije pouzdanosti – Deo 4: Ocena ranih otkaza

Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans - Part 4: Early failure assessment

Опште информације

Apstrakt

Životni ciklus

TRENUTNO

Povezani projekti

Identičan sa prEN IEC 63287-4:2025 IDENTICAL

Identičan sa IEC 63287-4 ED1 IDENTICAL