Telefon: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Prodaja standarda: prodaja@iss.rs Seminari, obuke: iss-edukacija@iss.rs Informacije o standardima: infocentar@iss.rs
Stevana Brakusa 2, 11030 Beograd
Glavni meni

dnaSRPS EN IEC 63287-4:2026

Poluprovodnički uređaji – Smernice za planove kvalifikacije pouzdanosti – Deo 4: Ocena ranih otkaza

Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans - Part 4: Early failure assessment

Опште информације

50.20     19. 6. 2026.

50.60    31. 7. 2026.

ISS

N022

Evropski standard

31.080.01  

engleski  

Apstrakt

Ovaj deo standarda IEC 63287 daje smernice za razvoj planova kvalifikacije pouzdanosti korišćenjem ocene ranih otkaza, zasnovane na eksperimentalnom uslovljavanju okoline i predloženoj upotrebi proizvoda.
Ovaj dokument nije namenjen vojnim i svemirskim aplikacijama.

Životni ciklus

TRENUTNO

PROJEKAT
dnaSRPS EN IEC 63287-4:2026
50.20 Početak postupka odobravanja definitivnog teksta nacrta standarda
19. 6. 2026.

Povezani projekti

Identičan sa FprEN IEC 63287-4:2026 IDENTICAL

Identičan sa IEC 63287-4 ED1 IDENTICAL

Pregled

Da biste videli ceo sadržaj, morate se registrovati ili prijaviti pomoću korisničkog imena koje već imate.

Prijavite se