0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

naSRPS EN IEC 63740:2026

Смерница за поступке оцењивања поузданости и робусности оксида гејта силицијум-карбидних енергетских MOSFET транзистора (брзи поступак).

Guideline for gate oxide reliability and robustness evaluation procedures for silicon carbide power mosfets (Fast Track)

Опште информације

40.20     17. 7. 2026.

40.60    18. 9. 2026.

ISS

N022

Европски стандард

енглески  

Куповина

Уколико желите да набавите овај документ обратите се на следећу адресу: prodaja@iss.rs

Апстракт

Животни циклус

ТРЕНУТНО

ПРОЈЕКАТ
naSRPS EN IEC 63740:2026
40.20 Нацрт на јавној расправи 60 дана
17. 7. 2026.

Повезани пројекти

Идентичан са prEN IEC 63470:2026 IDENTICAL

Идентичан са IEC 63740 ED1 IDENTICAL

Преглед

Да бисте видели цео садржај, морате се регистровати или пријавити помоћу корисничког имена које већ имате.

Пријавите се