0 Stavka

Telefon: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Prodaja standarda: prodaja@iss.rs Seminari, obuke: iss-edukacija@iss.rs Informacije o standardima: infocentar@iss.rs
Stevana Brakusa 2, 11030 Beograd

Glavni meni

naSRPS EN IEC 63740:2026

Smernica za postupke ocenjivanja pouzdanosti i robusnosti oksida gejta silicijum-karbidnih energetskih MOSFET tranzistora (brzi postupak).

Guideline for gate oxide reliability and robustness evaluation procedures for silicon carbide power mosfets (Fast Track)

Опште информације

Trenutna faza: 40.20 Effective date: 17. 7. 2026.

Sledeća faza: 40.60 Datum sledeće faze: 18. 9. 2026.

Inicijator: ISS

Pripada: N022

Vrsta: Evropski standard

Jezik: engleski

Kupovina

Ukoliko želite da nabavite ovaj dokument obratite se na sledeću adresu: prodaja@iss.rs

Apstrakt

Životni ciklus

TRENUTNO

PROJEKAT
naSRPS EN IEC 63740:2026
40.20 Nacrt na javnoj raspravi 60 dana
17. 7. 2026.

Povezani projekti

Identičan sa prEN IEC 63470:2026 IDENTICAL

Identičan sa IEC 63740 ED1 IDENTICAL

Pregled

Da biste videli ceo sadržaj, morate se registrovati ili prijaviti pomoću korisničkog imena koje već imate.