0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

SRPS EN 62374:2008

Poluprovodničke komponente - Ispitivanje vremenski zavisnog dielektričnog proboja (TDDB) za dielektrične slojeve gejta

Semiconductor devices - Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) test for gate dielectric films
19. 6. 2008.

Опште информације

60.60     19. 6. 2008.

ISS

N022

Европски стандард

31.080  

енглески  

Куповина

Објављен

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

Ovaj međunarodni standard obezbeđuje ispitne metode vremenski zavisnog dielektričnog proboja (TDDB) za dielektrične slojeve gejta poluprovodničkih komponenata i metode procene trajanja proizvoda TDDB otkaza.

Животни циклус

ТРЕНУТНО

ОБЈАВЉЕН
SRPS EN 62374:2008
60.60 Стандард објављен
19. 6. 2008.

Повезани пројекти

Идентичан са EN 62374:2007