0 Stavka
Moj nalog
Telefon: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Prodaja standarda: prodaja@iss.rs Seminari, obuke: iss-edukacija@iss.rs Informacije o standardima: infocentar@iss.rs
Stevana Brakusa 2, 11030 Beograd
Glavni meni

SRPS EN 62374:2008

Poluprovodničke komponente - Ispitivanje vremenski zavisnog dielektričnog proboja (TDDB) za dielektrične slojeve gejta

Semiconductor devices - Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) test for gate dielectric films
19. 6. 2008.

Опште информације

60.60     19. 6. 2008.

ISS

N022

Evropski standard

31.080  

engleski  

Kupovina

Objavljen

Jezik na kome želite da primite dokument.

Apstrakt

Ovaj međunarodni standard obezbeđuje ispitne metode vremenski zavisnog dielektričnog proboja (TDDB) za dielektrične slojeve gejta poluprovodničkih komponenata i metode procene trajanja proizvoda TDDB otkaza.

Životni ciklus

TRENUTNO

OBJAVLJEN
SRPS EN 62374:2008
60.60 Standard objavljen
19. 6. 2008.

Povezani projekti

Identičan sa EN 62374:2007