SRPS EN 60749-2:2008
Poluprovodničke komponente - Metode mehaničkih i klimatskih ispitivanja - Deo 2: Niski atmosferski pritisak
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure
29. 12. 2008.
Опште информације
60.60
29. 12. 2008.
ISS
N022
Европски стандард
31.080.01
енглески
Апстракт
Ovim standardom obuhvaćeno je ispitivanje na niskom atmosferskom pritisku za poluprovodničke komponente.
Животни циклус
ТРЕНУТНО
ОБЈАВЉЕН
SRPS EN 60749-2:2008
60.60
Стандард објављен
29. 12. 2008.
Повезани пројекти
Идентичан са
EN 60749-2:2002