SRPS EN 60749-2:2008
Poluprovodničke komponente - Metode mehaničkih i klimatskih ispitivanja - Deo 2: Niski atmosferski pritisak
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure
29. 12. 2008.
Опште информације
60.60
29. 12. 2008.
ISS
N022
Evropski standard
31.080.01
engleski
Apstrakt
Ovim standardom obuhvaćeno je ispitivanje na niskom atmosferskom pritisku za poluprovodničke komponente.
Životni ciklus
TRENUTNO
OBJAVLJEN
SRPS EN 60749-2:2008
60.60
Standard objavljen
29. 12. 2008.
Povezani projekti
Identičan sa
EN 60749-2:2002