0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

SRPS EN 62417:2011

Poluprovodničke komponente - Ispitivanje pokretnih nosilaca naelektrisanja kod metal-oksid tranzistora sa efektom polja (MOSFET)

Semiconductor devices - Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs)
21. 4. 2011.

Опште информације

60.60     21. 4. 2011.

ISS

N022

Европски стандард

31.080  

енглески  

From plan 2011

Куповина

Објављен

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

Opisuje proceduru ispitivanja podmetača od poluprovodničkog materijala (wafer) da bi se odredila količina naelektrisanja pozitivnih pokretnih nosilaca kod MOSFET-ova.

Животни циклус

ТРЕНУТНО

ОБЈАВЉЕН
SRPS EN 62417:2011
60.60 Стандард објављен
21. 4. 2011.

Повезани пројекти

Идентичан са EN 62417:2010