0 Stavka
Moj nalog
Telefon: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Prodaja standarda: prodaja@iss.rs Seminari, obuke: iss-edukacija@iss.rs Informacije o standardima: infocentar@iss.rs
Stevana Brakusa 2, 11030 Beograd
Glavni meni

SRPS EN 62417:2011

Poluprovodničke komponente - Ispitivanje pokretnih nosilaca naelektrisanja kod metal-oksid tranzistora sa efektom polja (MOSFET)

Semiconductor devices - Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs)
21. 4. 2011.

Опште информације

60.60     21. 4. 2011.

ISS

N022

Evropski standard

31.080  

engleski  

From plan 2011

Kupovina

Objavljen

Jezik na kome želite da primite dokument.

Apstrakt

Opisuje proceduru ispitivanja podmetača od poluprovodničkog materijala (wafer) da bi se odredila količina naelektrisanja pozitivnih pokretnih nosilaca kod MOSFET-ova.

Životni ciklus

TRENUTNO

OBJAVLJEN
SRPS EN 62417:2011
60.60 Standard objavljen
21. 4. 2011.

Povezani projekti

Identičan sa EN 62417:2010