SRPS EN IEC 60749-41:2020

Poluprovodničke komponente - Metode mehaničkih i klimatskih ispitivanja - Deo 41: Metode ispitivanja pouzdanosti nepromenljivih memorijskih komponenti

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices

Apstrakt

IEC 60749-41:2020 utvrđuje proceduralne zahteve za izvođenje validnih ispitivanja izdržljivosti, zadržavanja i unakrsnih temperatura na osnovu kvalifikacionih specifikacija. Specifikacije kvalifikacija za izdržljivost i zadržavanje (za brojanje ciklusa, trajanja, temperature i veličine uzoraka) navedene su u JESD47 ili su razvijene primenom metoda zasnovanih na znanju kao što je JESD94.