0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

delSRPS EN 62373-1:2018

Poluprovodničke komponente

Semiconductor devices - Bias-temperature stability test for metal-oxide semiconductor field-effect transistors (MOSFET) - Part 1: Fast BTI Test method

Опште информације

30.98     18. 7. 2018.

30.99    4. 1. 2019.

ISS

N022

Европски стандард

Odustaje se zbog toga što je CLC odustao.

Апстракт

IEC 62373-1:2020 provides the measurement procedure for a fast BTI (bias temperature instability) test of silicon based metal-oxide semiconductor field-effect transistors (MOSFETs).

This document also defines the terms pertaining to the conventional BTI test method.

Животни циклус

ТРЕНУТНО

НАПУШТЕН
delSRPS EN 62373-1:2018
30.98 Пројекат се брише из плана рада комисије за стандарде
18. 7. 2018.

Повезани пројекти

Идентичан са prEN 62373-1