0 Stavka
Moj nalog
Telefon: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Prodaja standarda: prodaja@iss.rs Seminari, obuke: iss-edukacija@iss.rs Informacije o standardima: infocentar@iss.rs
Stevana Brakusa 2, 11030 Beograd
Glavni meni

delSRPS EN 62373-1:2018

Poluprovodničke komponente

Semiconductor devices - Bias-temperature stability test for metal-oxide semiconductor field-effect transistors (MOSFET) - Part 1: Fast BTI Test method

Опште информације

30.98     18. 7. 2018.

30.99    4. 1. 2019.

ISS

N022

Evropski standard

Odustaje se zbog toga što je CLC odustao.

Apstrakt

IEC 62373-1:2020 provides the measurement procedure for a fast BTI (bias temperature instability) test of silicon based metal-oxide semiconductor field-effect transistors (MOSFETs).

This document also defines the terms pertaining to the conventional BTI test method.

Životni ciklus

TRENUTNO

NAPUŠTEN
delSRPS EN 62373-1:2018
30.98 Projekat se briše iz plana rada komisije za standarde
18. 7. 2018.

Povezani projekti

Identičan sa prEN 62373-1