0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

delSRPS EN IEC 63284:2021

Полупроводнички уређаји - Метода испитивања транзистора од галијум нитрида прекидањем индуктивног оптерећења

Semiconductor devices - Reliability test method by inductive load switching for gallium nitride transistors

Опште информације

40.98     26. 5. 2021.

ISS

N022

Европски стандард

енглески  

Апстракт

This document covers the protocol of performing a stress procedure and a corresponding test method to evaluate the reliability of Gallium Nitride (GaN) power transistors by inductive load switching, specifically hard-switching stress.

Животни циклус

ТРЕНУТНО

НАПУШТЕН
delSRPS EN IEC 63284:2021
40.98 Пројекат се брише из плана рада комисије за стандарде
26. 5. 2021.

Повезани пројекти

Идентичан са prEN IEC 63284:2021