0 Stavka
Moj nalog
Telefon: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Prodaja standarda: prodaja@iss.rs Seminari, obuke: iss-edukacija@iss.rs Informacije o standardima: infocentar@iss.rs
Stevana Brakusa 2, 11030 Beograd
Glavni meni

delSRPS EN IEC 63284:2021

Poluprovodnički uređaji - Metoda ispitivanja tranzistora od galijum nitrida prekidanjem induktivnog opterećenja

Semiconductor devices - Reliability test method by inductive load switching for gallium nitride transistors

Опште информације

40.98     26. 5. 2021.

ISS

N022

Evropski standard

engleski  

Apstrakt

This document covers the protocol of performing a stress procedure and a corresponding test method to evaluate the reliability of Gallium Nitride (GaN) power transistors by inductive load switching, specifically hard-switching stress.

Životni ciklus

TRENUTNO

NAPUŠTEN
delSRPS EN IEC 63284:2021
40.98 Projekat se briše iz plana rada komisije za standarde
26. 5. 2021.

Povezani projekti

Identičan sa prEN IEC 63284:2021