ПРОЈЕКАТ
IEC 63567-1 ED1
40.60
Завршетак јавне расправе
13. 3. 2026.
Полупроводнички уређаји – Оцењивање перформанси компоненти опреме за обраду полупроводника и опреме за инспекцију – Део 1: Метода оцењивања пропустљивости EUV пеликле
40.60 Завршетак јавне расправе