0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs Сертификационо тело: sertifikaciono.telo@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

ISO/AWI 22278

Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) — Test method for crystalline quality of single-crystal thin film (wafer) using XRD method with parallel X-ray beam

Опште информације

10.99     20. 10. 2026.

ISO

ISO/TC 206

Међународни стандард

Апстракт

This document specifies the test method for measuring the crystalline quality of single-crystal thin film (wafer) using the XRD method with parallel X-ray beam. This document is applicable to all of the single-crystal thin film (wafer) as bulk or epitaxial layer structure.

Животни циклус

ПРЕТХОДНО

ОБЈАВЉЕН
ISO 22278:2020

ТРЕНУТНО

ПРОЈЕКАТ
ISO/AWI 22278
10.99 Нови пројекат се прихвата
20. 10. 2026.