скенирајућа јонска микроскопија

енглески

Термин
scanning ion microscopy

Опис

method in which an ion beam focused into a sub-nanometre scale spot is scanned over a surface to create an image Note 1 to entry: A variety of different ion sources can be used for imaging, including helium, neon and argon.

српски

Термин
Нема информација

Опис
Нема информација

српски

Термин
скенирајућа јонска микроскопија

Опис

метода у којој се фокусираним јонским снопом, пречника мањег од нанометра, скенира површина узорка како би се добила слика

Напомена 1 уз термин: За ову технику могу да се користе различити јонски извори и јони, укључујући хелијум, неон и аргон.

Повезани стандарди

SRPS CEN ISO/TS 80004-6:2022

Повезани ICS-ови

01.040.07 - Математика. Природне науке (Речници)

07.030 - Физика. Хемија