scanning ion microscopy

engleski

Termin
scanning ion microscopy

Opis

method in which an ion beam focused into a sub-nanometre scale spot is scanned over a surface to create an image Note 1 to entry: A variety of different ion sources can be used for imaging, including helium, neon and argon.

srpski

Termin
Nema informacija

Opis
Nema informacija

srpski

Termin
скенирајућа јонска микроскопија

Opis

метода у којој се фокусираним јонским снопом, пречника мањег од нанометра, скенира површина узорка како би се добила слика

Напомена 1 уз термин: За ову технику могу да се користе различити јонски извори и јони, укључујући хелијум, неон и аргон.

Povezani standardi

SRPS CEN ISO/TS 80004-6:2022

Povezani ICS-ovi

01.040.07 - Matematika. Prirodne nauke (Rečnici)

07.030 - Fizika. Hemija