Phone: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Standards sales: prodaja@iss.rs Education: iss-edukacija@iss.rs Information about standards: infocentar@iss.rs
Stevana Brakusa 2, 11030 Beograd
Main menu

scanning ion microscopy

English

Name
scanning ion microscopy
Description

method in which an ion beam focused into a sub-nanometre scale spot is scanned over a surface to create an image Note 1 to entry: A variety of different ion sources can be used for imaging, including helium, neon and argon.

Serbian

Name
No information
Description
No information

Serbian

Name
скенирајућа јонска микроскопија
Description

метода у којој се фокусираним јонским снопом, пречника мањег од нанометра, скенира површина узорка како би се добила слика

Напомена 1 уз термин:   За ову технику могу да се користе различити јонски извори и јони, укључујући хелијум, неон и аргон.

Related standards

Related ICSs

  • 01.040.07 - Natural and applied sciences (Vocabularies)
  • 07.030 - Physics. Chemistry