scanning tunneling microscopy; STM

SPM (3.5.1) mode for imaging conductive surfaces by mechanically scanning a sharp, voltage-biased, conducting probe tip over their surface, in which the data of the tunnelling current and the tip-surface separation are used in generating the image Note 1 to entry: STM can be conducted in vacuum, a liquid or air. Atomic resolution can be achieved with suitable samples and sharp probes and can, with ideal samples, provide localized bonding information around surface atoms. Note 2 to entry: Images can be formed from the height data at a constant tunnelling current or the tunnelling current at a constant height or other modes at defined relative potentials of the tip and sample. Note 3 to entry: STM can be used to map the densities of states at surfaces or, in ideal cases, around individual atoms. The surface images can differ significantly, depending on the tip bias, even for the same topography.

SPM (3.5.1) način za vizuelizaciju elektroprovodne površine mehaničkim prevlačenjem oštre sonde pod naponom i generisanja struje tunelovanja između vrha sonde i površine materijala NAPOMENA 1 uz termin: STM se može izvoditi u vakuumu, tečnosti ili vazduhu. Atomsku rezoluciju je moguće postići sa pogodnim uzorcima i oštrom sondom, čime se, u idealnim uslovima, dobijaju informacije o prirodi veza atoma na površini. NAPOMENA 2 uz termin: Slike se mogu formirati iz podataka o visini pri konstantnoj struji tunelovanja ili iz promenljive struje tunelovanja na konstantnoj visini, ali i drugim načinima rada pri definisanim relativnim potencijalima vrha sonde i uzorka. NAPOMENA 3 uz termin: STM se može koristiti za mapiranje gustine elektronskih stanja na površini ili, u idealnim slučajevima, oko pojedinačnih atoma. Slike površine se mogu znatno razlikovati, čak i za iste topografije, jer zavise od osetljivosti vrha sonde.

SPM (3.5.1) način za vizuelizaciju elektroprovodne površine mehaničkim prevlačenjem oštre sonde pod naponom i generisanja struje tunelovanja između vrha sonde i površine materijala NAPOMENA 1 uz termin: STM se može izvoditi u vakuumu, tečnosti ili vazduhu. Atomsku rezoluciju je moguće postići sa pogodnim uzorcima i oštrom sondom, čime se, u idealnim uslovima, dobijaju informacije o prirodi veza atoma na površini. NAPOMENA 2 uz termin: Slike se mogu formirati iz podataka o visini pri konstantnoj struji tunelovanja ili iz promenljive struje tunelovanja na konstantnoj visini, ali i drugim načinima rada pri definisanim relativnim potencijalima vrha sonde i uzorka. NAPOMENA 3 uz termin: STM se može koristiti za mapiranje gustine elektronskih stanja na površini ili, u idealnim slučajevima, oko pojedinačnih atoma. Slike površine se mogu znatno razlikovati, čak i za iste topografije, jer zavise od osetljivosti vrha sonde.