scanning ion microscopy

method in which an ion beam focused into a sub-nanometre scale spot is scanned over a surface to create an image Note 1 to entry: A variety of different ion sources can be used for imaging, including helium, neon and argon.

metoda u kojoj se fokusiranim jonskim snopom, prečnika manjeg od nanometra, skenira površina uzorka kako bi se dobila slika NAPOMENA 1 uz termin: Za ovu tehniku mogu da se koriste različiti jonski izvori i joni, uključujući helijum, neon i argon.

metoda u kojoj se fokusiranim jonskim snopom, prečnika manjeg od nanometra, skenira površina uzorka kako bi se dobila slika NAPOMENA 1 uz termin: Za ovu tehniku mogu da se koriste različiti jonski izvori i joni, uključujući helijum, neon i argon.