Surface irregularities of varying amplitude and frequency resulting from the manufacturing method employed (for further information refer to ISO 4287-1 L
NOTE - Within the limits of a conventionally defined sampling I ength,
roughness tan be quantified using a profile meter
nesavršenosti na površini, različitih amplituda i učestalosti, koje su posledica primenjene metode proizvodnje (za dodatne informacije videti ISO 4287-1)
NAPOMENA U okviru ograničenja konvencionalno definisane dužine uzoraka, hrapavost može da se kvantifikuje primenom profilnog metra.
несавршености на површини, различитих амплитуда и учесталости, које су последица примењене методе производње (за додатне информације видети ISO 4287-1)
НАПОМЕНА У оквиру ограничења конвенционално дефинисане дужине узорака, храпавост може да се квантификује применом профилног метра.